Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18764| Nhan đề: | Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis |
| Tác giả: | Joseph I. Goldstein Dale E. Newbury Joseph R. Michael Nicholas W.M. Ritchie John Henry J. Scott David C. Joy |
| Năm xuất bản: | 2018 |
| Nhà xuất bản: | Springer |
| Định danh: | http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18764 |
| ISBN: | 978-1-4939-6676-9 |
| Bộ sưu tập: | Multi-Discipline |
Các tập tin trong tài liệu này:
| Tập tin | Mô tả | Kích thước | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| 978-1-4939-6676-9.pdf | 66,74 MB | Adobe PDF |  Đăng nhập để xem toàn văn |
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.