Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18764Toàn bộ biểu ghi siêu dữ liệu
| Trường DC | Giá trị | Ngôn ngữ |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Joseph I. Goldstein | |
| dc.contributor.author | Dale E. Newbury | |
| dc.contributor.author | Joseph R. Michael | |
| dc.contributor.author | Nicholas W.M. Ritchie | |
| dc.contributor.author | John Henry J. Scott | |
| dc.contributor.author | David C. Joy | |
| dc.date.accessioned | 2018-03-15T07:54:40Z | - |
| dc.date.available | 2018-03-15T07:54:40Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.identifier.isbn | 978-1-4939-6676-9 | |
| dc.identifier.uri | http://thuvienso.bvu.edu.vn/handle/TVDHBRVT/18764 | - |
| dc.language.iso | eng | |
| dc.publisher | Springer | |
| dc.title | Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | |
| dc.type | ebook | |
| Bộ sưu tập: | Multi-Discipline | |
Các tập tin trong tài liệu này:
| Tập tin | Mô tả | Kích thước | Định dạng | |
|---|---|---|---|---|
| 978-1-4939-6676-9.pdf | 66,74 MB | Adobe PDF |  Đăng nhập để xem toàn văn |
Khi sử dụng các tài liệu trong Thư viện số phải tuân thủ Luật bản quyền.